기기예약

X선 광전자 분광기

서울
기기명 (영문) XPS
기기명 (한글) X선 광전자 분광기
모델명 K-alpha +
제조회사 ThermoFisher Scientific
도입시기 2016.05
담당 한철경 / 02-820-6173
장비위치 수림과학관 201호
교외시료 결제방법 옵션에서 선택
예약시간 센터에 시료를 가져오시는 시간
주의사항 하루에 측정가능한 샘플의 개수가 한정되어 있습니다. 전날의 예약건이 많거나 측정이 오래걸리는 시료가 있는 경우 다음날 예약을 받지 않고 있습니다. 여유를 갖고 시료 의뢰하시기 바랍니다.
예약가능여부
  • 예약가능
  • 2022.08.19 ~ 2022.08.22 예약불가 ( 예약초과 )
기기 예약하기
1. XPS 분석프로그램인 AVANTAGE

  - 연구실에 Fitting 프로그램이 없는 경우, 간단한 프로그램 사용법을 교육받은 후 학생들이 직접 사용하실 수 있도록 XPS에 설치되어 있습니다. 사용시간 : 오전 9시 - 오후 6시 (점심시간 제외, 방학 10-4시)



2. XPS 예약방법 및 일정

  - XPS는 의뢰 분석만 가능합니다. 시료를 센터로 가져오실 시간에 예약 후 시간맞춰 가져오시면 됩니다.

  시료를 맡기시고 가시면 2-3일내로(주말, 공휴일 제외) 데이터를 받아보실 수 있습니다. 


  택배로 샘플을 보내시는 경우, 보내신날 +2일로 예약해주세요. 

  (예시) 월요일 택배 발송 -> 수요일 오전시간으로 예약



3. 예약시 주의사항

  - 홈페이지 예약시 기타입력란에 보고자하는 원소의 종류를 반드시 써주세요.

   그 외의 주의사항, 시료의 특성, 데이터 받으실 이메일주소 등 자세하게 써주시기 바랍니다. 



4. 시료준비

 - 초고진공에 적합하게 완전히 건조된 상태여야 합니다. 가루가 날리거나 진공이 잡히지 않는 시료는 측정 불가합니다. 진공이 잡히지 않아서 다른 시료 측정 일정에 피해를 주는 경우 패널티 요금 50%부과됨.

  1) 파우더 시료 : 작은 바이알 또는 ep tube에 100mg(0.1g)정도 완전히 드라이된 상태로 준비 

  2) 박막 시료 : 5 mm X 5 mm ~ 10 mm X 10 mm, height < 15 mm  사이즈로 준비.

                    사이즈가 큰 시료의 경우 임의로 자르거나 측정이 거부될 수 있습니다. 

                    앞뒷면이 다른 경우 시료를 부착해서 고정시켜서 보내주셔야 합니다.

  3) 시료를 반드시 1,2,3,4 순서대로 넘버링해서 보내주시기 바랍니다. 실험자만 알 수 있는 시료명이나 임의의 숫자로 보내지 마시고 넘버링 꼭 다시 해주시기 바랍니다.

  4) 시료를 카본테이프에 부착하여 측정하기 때문에 온전하게 시료가 회수가 안될수도 있습니다. 



5. 분석 절차

  1) 처음 의뢰하시는 경우 : 담당자와 통화 후 시료 측정 가능 여부 및 일정 확인 → 홈페이지 예약하기 →  시료 도착 → 예약 승인 → 시료 도착 순서대로 실험 진행 → 데이터 발송 → 실험완료 → 결제

  2) 재의뢰의 경우 : 예약이 열려있는 날짜에 홈페이지 예약 -> 시료 도착 → 예약 승인 → 시료 도착 순서대로 실험 진행 → 데이터 발송 → 실험완료 → 결제



6. 담당자 이메일 : ckee22@cau.ac.kr(교육 및 기타 문의)



7. 시료 보내실 주소 : 서울시 흑석로 84 중앙대학교 수림과학관(104관) 205호 공동기기센터, 한철경(02-820-6173)



8. 처음찍으시는 분들을 위한 XPS 참고 동영상 

  1) XPS란 : https://youtu.be/Pd4ZmnTrj_I

  2) XPS 데이터 그래프 해석방법 : https://youtu.be/ij6bVhQiN9g

 
X-선 광전자 분광법은 광원으로 X-선을 사용하여 내부 전자로부터 광전자(Photoelecton)를 방출시켜 광전자의 운동에너지를 측정함으로써 원소의 화학적 이동(chemical shift)의 차이를 이용하여 표면의 구성 원소의 화학 결합 상태를 알아낼 수 있는 분석 장비임



1. 응용분야

- 시료 표면의 정성, 정량 분석

- 반도체 표상 및 성분 분석

- 금속재료 표면 산화상태, 부식 상태 등 구조 해석

- 고분자 복합 재료 연구 등



2. 분석 내용

 1) Surface : 시료 표면으로부터 10 nm 이내의 정성, 정량 분석하는 실험

 2) Depth Profile : 시료 표면 측정과 Ar sputtering을 반복하여 시료 표면부터 깊이, 분포를 분석하는 실험

 3) AR-XPS : 각도를 바꿔가며 일반적으로 5 nm 이하의 초박막 시료의 상대적인 조성 및 분포를 얻을 수 있는 실험(비파괴 두께측정) 



3. 시료 준비

 - 파우더, 박막, 필름 등 시료는 반드시 초고진공에 적합하게 완전히 건조된 상태여야 함.

 - 가루가 날리거나 진공이 잡히지 않는 시료는 측정 불가

 - 용매에 있던 시료는 반드시 진공오븐에서 건조 후 측정 의뢰

 - 시료사이즈 : 5 mm X 5 mm ~ 10 mm X 10 mm, height < 15 mm


※ 10% 부가가치세 별도

※ 진공이 잡히지 않아서 다른 시료 측정의 피해를 주는 경우 패널티로 요금 50% 부과

  시료를 측정했으나 시료 문제로 데이터가 나오지 않는 경우 측정을 했으므로 요금의 50%를 과금합니다.