기기예약

X선 광전자 분광기

서울
기기명 (영문) XPS
기기명 (한글) X선 광전자 분광기
모델명 K-alpha +
제조회사 ThermoFisher Scientific
도입시기 2016.05
담당 한철경 / 02-820-6173
분석의뢰 처음 사용 시 담당자와 통화 후 일정 조정
예약시간 센터에 시료가 도착하는 시간
주의사항 하루에 측정가능한 샘플의 개수가 한정되어 있습니다. 전날의 예약건이 많거나 측정이 오래걸리는 시료가 있는 경우 다음날 예약을 받지 않고 있습니다. 여유를 갖고 시료 의뢰하시기 바랍니다.
교외시료 결제방법 옵션에서 선택해주세요 / 교외대학의 경우, 학과와 교수님 성함 따로 기입해주세요.
예약가능여부
  • 예약가능
  • 2020.09.25 ~ 2020.09.25 예약불가 ( 예약불가 )
  • 2020.09.28 ~ 2020.09.29 예약불가 ( 장비점검 )
  • 2020.09.22 ~ 2020.09.22 예약불가 ( 예약마감 )
기기 예약하기
※ XPS 분석프로그램인 AVANTAGE를 학생들이 직접 사용할 수 있도록 XPS실에 설치하였습니다.

연구실에 Fitting프로그램이 없는 경우, 간단한 프로그램 사용법을 교육받은 후 직접 사용하실 수 있습니다. 사용시간 : 오전9시-오후6시(점심시간 제외, 방학 9-4시)




※ 예약 날짜 및 시간 : 시료를 맡기러 센터에 오는 시간 또는 택배 도착일을 선택하시면 됩니다.

※ 홈페이지에서 예약시 기타입력란에 보고자하는 원소의 종류, 시료의 특성, 데이터받으실 이메일주소 등 자세하게 써주시기 바랍니다. 



1. 분석 절차

담당자와 통화 후 일정 확인 → 광전자분광기(XPS) 선택 후 예약하기 → 시료 도착 → 예약 승인 → 시료 도착 순서대로 실험 진행 → 데이터 발송 → 실험완료 → 결제



2. 분석 내용

1) Surface : 시료 표면으로부터 10 nm 이내의 정성, 정량 분석하는 실험

2) Depth Profile : 시료 표면 측정과 Ar sputtering을 반복하여 시료 표면부터 깊이, 분포를 분석하는 실험

3) AR-XPS : 각도를 바꿔가며 일반적으로 5 nm 이하의 초박막 시료의 상대적인 조성 및 분포를 얻을 수 있는 실험(비파괴 두께측정) 



3. 시료 준비

- 파우더, 박막, 필름 등 시료는 반드시 초고진공에 적합하게 완전히 건조된 상태여야 함.

- 가루가 날리거나 진공이 잡히지 않는 시료는 측정 불가

- 용매에 있던 시료는 반드시 진공오븐에서 건조 후 측정 의뢰

- 시료사이즈 : 5 mm X 5 mm ~ 10 mm X 10 mm, height < 15 mm
X-선 광전자 분광법은 광원으로 X-선을 사용하여 내부 전자로부터 광전자(Photoelecton)를 방출시켜 광전자의 운동에너지를 측정함으로써 원소의 화학적 이동(chemical shift)의 차이를 이용하여 표면의 구성 원소의 화학 결합 상태를 알아낼 수 있는 분석 장비임



응용분야

- 시료 표면의 정성, 정량 분석

- 반도체 표상 및 성분 분석

- 금속재료 표면 산화상태, 부식 상태 등 구조 해석

- 고분자 복합 재료 연구 등


※ 10% 부가가치세 별도